| ▶ 선형치수 |
| 다이얼/실린더 게이지 시험기 |
10206 |
- |
(0 ~ 5) mm |
SQRT(0.24² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
전기 마이크로미터, 게이지 블록/DMR-CI-10201 |
|
| 다이얼/실린더 게이지 시험기 |
10206 |
- |
(5 ~ 25) mm |
SQRT(0.62² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
전기 마이크로미터, 게이지 블록/DMR-CI-10201 |
|
| 엔드바, 마이크로미터 기준봉 |
10209 |
- |
(5 ~ 1 000) mm |
SQRT(1.3² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
전기 마이크로미터, 게이지 블록, 정밀 정반/DMR-CI-10202 |
|
| 길이 변위계, LVDT |
10210 |
- |
(0 ~ 100) mm |
SQRT(0.20² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록/DMR-CI-10203 |
|
| 갭 게이지 |
10213 |
- |
(0 ~ 200) mm |
SQRT(3.7² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
높이 마이크로미터, 전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10204 |
|
| 높이 게이지/측정기 |
10216 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
SQRT(1.6² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 정밀 정반/DMR-CI-10205 |
|
| 표준 측장기 |
10220 |
- |
(0 ~ 500) mm |
SQRT(0.14² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록/DMR-CI-10206 |
|
| 전기 마이크로미터 |
10223 |
- |
(0 ~ 5) mm |
0.28 μm |
게이지 블록/DMR-CI-10207 |
|
| 높이 마이크로미터, 받침블록 |
10224 |
높이 마이크로미터 블록 |
(0 ~ 600) mm |
SQRT(1.5² + (0.003 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10208 |
|
| 높이 마이크로미터, 받침블록 |
10224 |
헤드 |
(0 ~ 30) mm |
SQRT(1.6² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10208 |
|
| 래디어스 게이지 |
10229 |
- |
(0.1 ~ 50) mm |
2.0 μm |
측정 현미경/DMR-CI-10209 |
|
| 스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
10232 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
SQRT(1.3² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10210 |
|
| 초음파식 두께 측정기 |
10234 |
- |
(5 ~ 150) mm |
SQRT(7.6² + (0.005 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
두께 측정용 기준시편:초음파시편/DMR-CI-10211 |
|
| 두께 측정용 기준 시편; 코팅형, 초음파 시편 |
10235 |
초음파 시편 |
(1 ~ 150) |
SQRT(1.5² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10214 |
|
| 피막 두께 측정기 |
10236 |
- |
(0 ~ 1.1) mm |
4.3 μm |
두께 측정용 기준 시편:코팅형/DMR-CI-10213 |
|
| ▶ 형상 |
| 형상 측정기 |
10401 |
Z축 |
(0 ~ 50) mm |
SQRT(0.12² + (0.003 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
형상 표준시편, 게이지 블록, 각도 게이지 블록/DMR-CI-10401 |
|
| 형상 측정기 |
10401 |
X축 |
(0 ~ 50) mm |
SQRT(1.0² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
형상 표준시편, 게이지 블록, 각도 게이지 블록/DMR-CI-10401 |
|
| 형상 측정기 |
10401 |
각도 |
60˚ |
4.4″ |
형상 표준시편, 게이지 블록, 각도 게이지 블록/DMR-CI-10401 |
|
| 옵티컬 플랫 |
10404 |
- |
(Ø1 ~ Ø45) |
0.11 μm |
옵티컬 플랫/DMR-CI-10402 |
|
| 옵티컬 플랫 |
10404 |
- |
(Ø45 ~ Ø60) |
0.14 μm |
옵티컬 플랫/DMR-CI-10402 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
대각선 길이 |
(0 ~ 540) mm |
0.7 μm |
전기식 수준기/DMR-CI-10403 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
대각선 길이 |
(540 ~ 1 100) mm |
1.3 μm |
전기식 수준기/DMR-CI-10403 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
대각선 길이 |
(1 100 ~ 1 900) mm |
1.5 μm |
전기식 수준기/DMR-CI-10403 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
대각선 길이 |
(1 900 ~ 4 300) mm |
2.5 μm |
전기식 수준기/DMR-CI-10403 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
검출기 정확도 |
(0 ~ 1) mm |
0.40 μm |
진원도 표준구, 진원도 표준시편/DMR-CI-10404 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
원주방향 회전오차 |
(0 ~ 1) mm |
0.086 μm |
진원도 표준구, 진원도 표준시편/DMR-CI-10404 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
진직도 |
(0 ~ 1 500) mm |
4.2 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10405 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
평행도 |
(0 ~ 1 500) mm |
4.8 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반/DMR-CI-10405 |
|
| ▶ 복합형상 |
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
이송정확도 |
(0 ~ 1 000) mm |
SQRT(0.9² + (0.003 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
스텝 게이지/DMR-CI-10501 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
공간정확도 |
(0 ~ 1 000) mm |
SQRT(0.9² + (0.003 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
스텝 게이지/DMR-CI-10501 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
직각도 |
(0 ~ 1 000) mm |
1.9″ |
직각자/DMR-CI-10501 |
|
| 비접촉식 좌표 측정기 |
10504 |
이송정확도 |
(0 ~ 300) mm |
SQRT(0.50² + (0.002 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
표준자/DMR-CI-10502 |
|
| 비접촉식 좌표 측정기 |
10504 |
직각도 |
(0 ~ 300) mm |
13″ |
직각자/DMR-CI-10502 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
이송정확도 |
(0 ~ 300) mm |
SQRT(0.52² + (0.002 2 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
표준자/DMR-CI-10503/DMR-CI-10504 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
직각도 |
(0 ~ 300) mm |
3.5 μm |
직각자/DMR-CI-10503/DMR-CI-10504 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
배율오차 |
(0 ~ 300) mm |
0.13% |
표준자/DMR-CI-10503/DMR-CI-10504 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
각도분할정확도 |
(0 ~ 300) mm |
1′ |
직각자/DMR-CI-10503/DMR-CI-10504 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Ra |
(0 ~ 2) μm |
0.018 μm |
표면거칠기 표준시편/DMR-CI-10505 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Ra |
(2 ~ 10) μm |
0.044 μm |
표면거칠기 표준시편/DMR-CI-10505 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Rz |
(0 ~ 4) μm |
0.076 μm |
표면거칠기 표준시편/DMR-CI-10505 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Rz |
(4 ~ 20) μm |
0.086 μm |
표면거칠기 표준시편/DMR-CI-10505 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
H |
(0 ~ 20) μm |
0.046 μm |
게이지 블록 단차시편/DMR-CI-10505 |
|
| ▶ 기타 길이 관련량 |
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
캘리퍼 게이지 |
(0 ~ 150) mm |
SQRT(9.1² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 게이지 블록 부속품/DMR-CI-10601 |
|
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
내 외측 캘리퍼 |
(0 ~ 1 500) mm |
SQRT(9.0² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 게이지 블록 부속품/DMR-CI-10602 |
|
| 실린더/보어 게이지 |
10603 |
- |
(0 ~ 1.2) μm |
1.1 μm |
다이얼 게이지 시험기/DMR-CI-10603 |
|
| 깊이 게이지, 마이크로미터; 다이얼형 포함 |
10604 |
깊이 게이지:다이얼형 포함 |
(0 ~ 600) mm |
SQRT(0.78² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 정밀 정반/DMR-CI-10604 |
|
| 깊이 게이지, 마이크로미터; 다이얼형 포함 |
10604 |
깊이 마이크로미터 |
(0 ~ 300) mm |
SQRT(0.88² + (0.003 4 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 정밀 정반/DMR-CI-10609 |
|
| 다이얼/디지털 게이지 |
10605 |
- |
(0 ~ 100) mm |
SQRT(0.36² + (0.015 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
다이얼 게이지 시험기/DMR-CI-10605 |
|
| 지침 측미기, 테스트 인디케이터 |
10609 |
- |
(0 ~ 2) mm |
1.0 μm |
다이얼 게이지 시험기/DMR-CI-10606/DMR-CI-10613 |
|
| 3점 마이크로미터 |
10611 |
- |
(2 ~ 125) mm |
SQRT(1.6² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
원통형 링 게이지/DMR-CI-10607 |
|
| 내측 마이크로미터 |
10612 |
내측 마이크로미터 |
(5 ~ 300) mm |
SQRT(1.8² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 게이지 블록 부속품/DMR-CI-10608 |
|
| 내측 마이크로미터 |
10612 |
봉형 마이크로미터 |
(50 ~ 1 050) mm |
SQRT(1.8² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록, 게이지 블록 부속품/DMR-CI-10610 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(0 ~ 100) mm |
SQRT(0.98² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록/DMR-CI-10611 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(100 ~ 1 500) mm |
SQRT(1.5² + (0.003 0 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
게이지 블록/DMR-CI-10611 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
V-앤빌 마이크로미터 |
(1 ~ 55) mm |
SQRT(1.4² + (0.002 8 × l₀)²) μm (l₀단위:mm) |
원통형 플러그 게이지/DMR-CI-10612 |
|
