| ▶ 방사능 |
| 표면오염 감시기 ; 알파, 베타, 감마 |
80202 |
- |
Am-241 |
6.2 × 10⁻² |
표면오염감시기/GDKQI-7027 |
|
| 표면오염 감시기 ; 알파, 베타, 감마 |
80202 |
- |
Cl-36, Sr-90 |
2.9 × 10⁻² |
표면오염감시기/GDKQI-7027 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 1.00 × 10⁻¹) |
- |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
88.03 keV 광자 |
4.9 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
122.06 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
165.86 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
391.70 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
661.66 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
898.04 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
1 173.23 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
1 332.49 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 섬광 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80211 |
22 mL Bottle |
1 836.07 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7025, GDKQI-7026 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
(121.78 ~ 1 408) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
121.78 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
244.70 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
344.28 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
411.12 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
778.90 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
867.38 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
964.08 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
1 112.08 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
점선원 |
1 408.01 keV 광자 |
3.9 × 10⁻² |
Eu-152 γ선원(25 cm 이격)/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
59.54 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
88.03 keV 광자 |
4.9 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
122.06 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
165.86 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
391.70 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
514.00 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
661.66 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
898.04 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
1 173.23 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
1 332.49 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
20 mL C.B. |
1 836.07 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
20 mL C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
122.06 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
165.86 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
391.70 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
661.66 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
898.04 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
1 173.23 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
1 332.49 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
22 mL Bottle |
1 836.07 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
22 mL Bottle γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
59.54 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
122.06 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
165.86 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
391.70 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
514.00 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
661.66 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
898.04 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
1 173.23 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
1 332.49 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
45 mL C.F. |
1 836.07 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
45 mL C.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
59.54 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
122.06 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
165.86 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
391.70 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
514.00 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
661.66 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
898.04 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
1 173.23 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
1 332.49 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
50 mm P.F. |
1 836.07 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
50 mm P.F. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
59.54 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
122.06 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
165.86 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
391.70 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
514.00 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
661.66 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
898.04 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
1 173.23 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
1 332.49 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L G.M.B. |
1 836.07 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
1 L G.M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
59.54 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
122.06 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
165.86 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
391.70 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
514.00 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
661.66 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
898.04 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
1 173.23 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
1 332.49 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L C.B. |
1 836.07 keV 광자 |
4.5 × 10⁻² |
1 L C.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
59.54 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
88.03 keV 광자 |
5.1 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
122.06 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
165.86 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
391.70 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
514.00 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
661.66 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
898.04 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
1 173.23 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
1 332.49 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
450 mL M.B. |
1 836.07 keV 광자 |
4.4 × 10⁻² |
450 mL M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
(50 ~ 2 000) keV 광자 (1.00 × 10⁻⁵ ~ 2.00 × 10⁻¹) |
- |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
59.54 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
88.03 keV 광자 |
5.0 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
122.06 keV 광자 |
4.3 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
165.86 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
391.70 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
514.00 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
661.66 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
898.04 keV 광자 |
4.1 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
1 173.23 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
1 332.49 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|
| 반도체 검출기; 알파, 베타, 엑스/감마 |
80212 |
1 L M.B. |
1 836.07 keV 광자 |
4.2 × 10⁻² |
1 L M.B. γ선원/GDKQI-7023, GDKQI-7024 |
|