| ▶ 선형치수 |
| 볼 ; 강구, 표준구 등 |
10201 |
- |
(0.1 ~ 50) mm |
sqrt((0.26 μm)²+ (3.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 표면 온도계/GAON-CI-102-01 |
|
| 다이얼/실린더 게이지 시험기 |
10206 |
- |
(0 ~ 25) mm |
sqrt((0.40 μm)²+ (2.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지블록, 전기 마이크로미터/ GAON-CI-102-02 |
|
| 엔드바, 마이크로미터 기준봉 |
10209 |
- |
(25 ~ 300) mm |
sqrt((0.24 μm)²+ (1.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지블록, 게이지 블록 (Long),표준 측장기, 표면 온도계/ GAON-CI-102-03 |
|
| 엔드바, 마이크로미터 기준봉 |
10209 |
- |
(300 ~ 500) mm |
sqrt((0.46 μm)²+ (2.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지블록, 게이지 블록 (Long),표준 측장기, 표면 온도계/ GAON-CI-102-03 |
|
| 엔드바, 마이크로미터 기준봉 |
10209 |
- |
(500 ~ 1 000) mm |
sqrt((0.92 μm)²+ (3.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지블록, 게이지 블록 (Long),표준 측장기, 표면 온도계/ GAON-CI-102-03 |
|
| 길이 변위계, LVDT |
10210 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
sqrt((0.78 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
다이얼/실린더 게이지 시험기,멀티미터/ GAON-CI-102-04 |
|
| 길이 변위계, LVDT |
10210 |
- |
(1 000 ~ 2 000) mm |
0.32 mm |
다이얼/실린더 게이지 시험기,멀티미터/ GAON-CI-102-04 |
|
| 틈새 게이지 |
10211 |
- |
(0.001 ~ 5) mm |
0.5 μm |
외측 마이크로미터/ GAON-CI-102-05 |
|
| 갭 게이지 |
10213 |
- |
(0.6 ~ 100) mm |
sqrt((0.54 μm)²+ (1.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 원통형 링 게이지,표면 온도계, 접촉식 좌표 측정기/ GAON-CI-102-06 |
|
| 게이지 블록; 비교교정 |
10214 |
- |
(0.1 ~ 100) mm |
sqrt((75 nm)²+ (1.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 비교기,표면 온도계/ GAON-CI-102-07 |
|
| 높이 게이지/측정기 |
10216 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
sqrt((0.48 μm)²+ (2.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지, 게이지 블록,전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-08 |
|
| 높이 게이지/측정기 |
10216 |
- |
(1 000 ~ 1 500) mm |
sqrt((58 μm)²+ (4.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지, 게이지 블록,전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-08 |
|
| 표준 측장기 |
10220 |
- |
(0 ~ 100) mm |
sqrt((0.18 μm)²+ (2.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),옵티컬 플랫, 옵티컬 파라렐,단색 광원 장치, 표면 온도계/ GAON-CI-102-09 |
|
| 표준 측장기 |
10220 |
- |
(100 ~ 500) mm |
sqrt((0.76 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),옵티컬 플랫, 옵티컬 파라렐,단색 광원 장치, 표면 온도계/ GAON-CI-102-09 |
|
| 전기 마이크로미터 |
10223 |
- |
(0 ~ 5) mm |
28 mm |
다이얼/실린더 게이지 시험기/ GAON-CI-102-10 |
|
| 높이 마이크로미터, 받침블록 |
10224 |
높이 마이크로미터 헤드 |
(0 ~ 20) mm |
sqrt((0.54 μm)²+ (2.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-11 |
|
| 높이 마이크로미터, 받침블록 |
10224 |
블록 간격 |
(5 ~ 600) mm |
sqrt((0.60 μm)²+ (2.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-11 |
|
| 레이저 스캔 마이크로미터 |
10225 |
- |
(0.1 ~ 60) mm |
sqrt((0.56 μm)²+ (1.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
원통형 플러그 게이지/ GAON-CI-102-12 |
|
| 표준 내/외경 줄자 |
10227 |
- |
(0 ~ 20) m |
sqrt((42 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
줄자 교정장치, 마이크로미터헤드,표준 내/외경 줄자(기준줄자)/ GAON-CI-102-13 |
|
| 원통형 플러그/핀 게이지, 나사 측정용 와이어 게이지 |
10228 |
- |
(0 ~ 100) mm |
sqrt((0.80 μm)²+ (1.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 전기 마이크로미터,게이지 블록, 표면 온도계/ GAON-CI-102-14 |
|
| 원통형 플러그/핀 게이지, 나사 측정용 와이어 게이지 |
10228 |
- |
(100 ~ 850) mm |
sqrt((3.6 μm)²+ (1.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
접촉식 좌표 측정기/ GAON-CI-102-14 |
|
| 래디어스 게이지 |
10229 |
- |
(0.1 ~ 75) mm |
2.4 μm |
비접촉 좌표 측정기 (공구 현미경)/GAON-CI-102-15 |
|
| 원통형 링 게이지 |
10230 |
- |
(2 ~ 100) mm |
sqrt((0.76 μm)²+ (1.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 원통형 링 게이지,표면 온도계/ GAON-CI-102-16 |
|
| 원통형 링 게이지 |
10230 |
- |
(100 ~ 300) mm |
sqrt((1.1 μm)²+ (1.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 원통형 링 게이지,표면 온도계/ GAON-CI-102-16 |
|
| 원통형 링 게이지 |
10230 |
- |
(300 ~ 500) mm |
sqrt((2.8 μm)²+ (1.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
접촉식 좌표 측정기/ GAON-CI-102-16 |
|
| 스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
10232 |
스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
(0 ~ 300) mm |
sqrt((0.74 μm)²+ (2.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-17 |
|
| 스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
10232 |
스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
(300 ~ 600) mm |
sqrt((0.90 μm)²+ (4.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-17 |
|
| 스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
10232 |
깊이 마이크로미터 마스터 블록 |
25 mm |
0.52 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-17 |
|
| 스텝 게이지, 캘리퍼 검사기 |
10232 |
블록 간격 |
(0 ~ 300) mm |
sqrt((0.60 μm)²+ (2.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계/ GAON-CI-102-17 |
|
| 테이퍼형 틈새 게이지 |
10233 |
- |
(1 ~ 60) mm |
2.4 μm |
비접촉 좌표 측정기 (공구 현미경)/ GAON-CI-102-18 |
|
| 초음파식 두께 측정기 |
10234 |
- |
(2.5 ~ 250) mm |
sqrt((9.5 μm)²+ (2.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
두께측정용 기준시편; 초음파시편/ GAON-CI-102-19 |
|
| 두께 측정용 기준 시편; 코팅형, 초음파 시편 |
10235 |
초음파 시편 |
(2.5 ~ 250) mm |
sqrt((0.58 μm)²+ (1.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계 GAON-CI-102-20 |
|
| 두께 측정용 기준 시편; 코팅형, 초음파 시편 |
10235 |
코팅형 |
(10 ~ 1 000) μm |
0.3 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계 GAON-CI-102-20 |
|
| 두께 측정용 기준 시편; 코팅형, 초음파 시편 |
10235 |
코팅형 |
(1 ~ 10) mm |
2.3 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계 GAON-CI-102-20 |
|
| 두께 측정용 기준 시편; 코팅형, 초음파 시편 |
10235 |
0점 금속판의 평면도 |
(0 ~ 1) mm |
0.5 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 (Long),전기 마이크로미터, 정밀 정반,표면 온도계 GAON-CI-102-20 |
|
| 피막 두께 측정기 |
10236 |
- |
(0 ~ 7 283) μm |
2.5 μm |
두께측정용 기준시편; 코팅형/ GAON-CI-102-21 |
|
| 토크 암 |
10237 |
- |
(0.1 ~ 1 000) mm |
sqrt((2.6 μm)²+ (3.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
접촉식 좌표 측정기/ GAON-CI-102-22 |
|
| ▶ 각도 |
| 각도 정규; 콤비네이션 셋 포함 |
10304 |
- |
(0 ~ 90)° |
0.6′ |
각도 게이지 블록/ GAON-CI-103-01 |
|
| 평형/각형/전기식 수준기 |
10311 |
- |
±3° |
0.66˝ |
미소 각도 설정기/ GAON-CI-103-02 |
|
| 직각도 시험기 |
10318 |
- |
(10 ~ 450) mm |
1.8 μm |
원통 스퀘어, 전기 마이크로미터/ GAON-CI-103-03 |
|
| 정밀 직각 기준, 직각자 |
10320 |
- |
(10 ~ 450) mm |
2.0 μm |
직각도 시험기, 전기 마이크로미터/ GAON-CI-103-04 |
|
| 정밀 직각 기준, 직각자 |
10320 |
- |
(450 ~ 900) mm |
3.0 μm |
접촉식 좌표 측정기/ GAON-CI-103-04 |
|
| ▶ 형상 |
| 형상 측정기 |
10401 |
높이방향 정확도 |
(0 ~ 60) mm |
sqrt((0.18 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
형상 표준 시편, 게이지 블록,각도 게이지 블록/GAON-CI-104-01 |
|
| 형상 측정기 |
10401 |
가로방향 정확도 |
(0 ~ 50) mm |
sqrt((1.0 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
형상 표준 시편, 게이지 블록,각도 게이지 블록/GAON-CI-104-01 |
|
| 형상 측정기 |
10401 |
각도 |
(30 ~ 45)° |
0.01° |
형상 표준 시편, 게이지 블록,각도 게이지 블록/GAON-CI-104-01 |
|
| 옵티컬 플랫 |
10404 |
- |
(25 ~ 100) mm |
0.06 μm |
단색 광원 장치, 옵티컬 플랫/GAON-CI-104-02 |
|
| 옵티컬 파라렐 |
10405 |
평면도 |
(12 ~ 50) mm |
0.02 μm |
단색 광원 장치, 옵티컬 플랫,게이지 블록 비교기, 깊이 게이지/GAON-CI-104-03 |
|
| 옵티컬 파라렐 |
10405 |
평행도 |
(12 ~ 50) mm |
0.09 μm |
단색 광원 장치, 옵티컬 플랫,게이지 블록 비교기, 깊이 게이지/GAON-CI-104-03 |
|
| 평행 블록 |
10406 |
평면도 |
(0 ~ 300) mm |
0.5 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,높이 게이지/GAON-CI-104-04 |
|
| 평행 블록 |
10406 |
평행도 |
(0 ~ 300) mm |
0.7 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,높이 게이지/GAON-CI-104-04 |
|
| 평행 블록 |
10406 |
짝(한쌍)의 높이 및 폭의 차이 |
(0 ~ 400) mm |
0.7 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,높이 게이지/GAON-CI-104-04 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(0.002 5 ~ 0.09) m² |
0.9 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(0.09 ~ 0.25) m² |
1.2 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(0.25 ~ 1) m² |
2.2 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(1 ~ 4) m² |
3.4 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(4 ~ 12.25) m² |
4.4 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 정밀 정반 |
10407 |
- |
(12.25 ~ 20.25) m² |
6.0 μm |
전기식 수준기/GAON-CI-104-05 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
검출기의 정확도 |
(0 ~ 0.4) mm |
0.40 μm |
진원도 감도시편,진원도 표준시편 (반구),옵티컬 플랫, 스트레이트 엣지/GAON-CI-104-06 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
원주 방향의 회전 정확도 |
360° |
0.40 μm |
진원도 감도시편,진원도 표준시편 (반구),옵티컬 플랫, 스트레이트 엣지/GAON-CI-104-06 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
축 방향 회전 정확도 |
360° |
0.012 μm |
진원도 감도시편,진원도 표준시편 (반구),옵티컬 플랫, 스트레이트 엣지/GAON-CI-104-06 |
|
| 진원도 측정기 |
10409 |
수직컬럼의 진직도 |
(0 ~ 250) mm |
1.6 μm |
진원도 감도시편,진원도 표준시편 (반구),옵티컬 플랫, 스트레이트 엣지/GAON-CI-104-06 |
|
| 형상 표준시편 |
10410 |
길이 |
(0 ~ 100) mm |
1.0 μm |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-104-10 |
|
| 형상 표준시편 |
10410 |
직경 |
(0 ~ 20) mm |
1.4 μm |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-104-10 |
|
| 형상 표준시편 |
10410 |
각도 |
(0 ~ 360)˚ |
0.19′ |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-104-10 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
진직도 |
(0 ~ 1 000) mm |
1.3 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
진직도 |
(1 000 ~ 2 000) mm |
3.4 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
진직도 |
(2 000 ~ 3 000) mm |
4.9 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
평행도 |
(0 ~ 1 000) mm |
1.3 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
평행도 |
(1 000 ~ 2 000) mm |
5.0 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 스트레이트 엣지 |
10412 |
평행도 |
(2 000 ~ 3 000) mm |
7.4 μm |
전기 마이크로미터/ GAON-CI-104-07 |
|
| 곧은자 |
10413 |
- |
(0 ~ 3 000) mm |
sqrt((70 μm)²+ (1.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
줄자 교정장치, 마이크로미터 헤드/GAON-CI-104-08 |
|
| 테스트 바아 |
10415 |
진원도 |
(0 ~ 100) mm |
0.40 μm |
진원도 측정기,전기 마이크로미터,브이 블록/GAON-CI-104-09 |
|
| 테스트 바아 |
10415 |
원통도 |
(0 ~ 100) mm |
2.3 μm |
진원도 측정기,전기 마이크로미터,브이 블록/GAON-CI-104-09 |
|
| 테스트 바아 |
10415 |
흔들림 |
(0 ~ 100) mm |
2.3 μm |
진원도 측정기,전기 마이크로미터,브이 블록/GAON-CI-104-09 |
|
| ▶ 복합형상 |
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
센터 간 평행도 |
(0 ~ 600) mm |
1.8 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,테스트 바/GAON-CI-105-01 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
양센터 높이차 |
(0 ~ 600) mm |
1.9 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,테스트 바/GAON-CI-105-01 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
베드의 평면도/평행도 |
(0 ~ 600) mm |
0.8 μm |
전기 마이크로미터, 정밀 정반,테스트 바/GAON-CI-105-01 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
sqrt((0.92 μm)²+ (2.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지, 표면 온도계,직각자/GAON-CI-105-02 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
- |
(1 000 ~ 1 500) mm |
sqrt((1.1 μm)²+ (3.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지, 표면 온도계,직각자/GAON-CI-105-02 |
|
| 접촉식 좌표 측정기 |
10503 |
직각도 |
(0 ~ 500) mm |
3.1 μm |
스텝 게이지, 표면 온도계,직각자/GAON-CI-105-02 |
|
| 비접촉식 좌표 측정기 |
10504 |
- |
(0 ~ 1 000) mm |
sqrt((0.44 μm)²+ (2.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준자, 직각자/ GAON-CI-105-03 |
|
| 비접촉식 좌표 측정기 |
10504 |
직각도 |
(0 ~ 500) mm |
3.1 μm |
표준자, 직각자/ GAON-CI-105-03 |
|
| 비접촉식 좌표 측정기 |
10504 |
각도 |
(10 ~ 90)˚ |
3.6˝ |
표준자, 직각자/ GAON-CI-105-03 |
|
| 게이지 블록 부속품 |
10505 |
높이 |
(0 ~ 35) mm |
sqrt((0.12 μm)²+ (1.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 비교기,표면온도계, 비접촉 좌표 측정기,정밀 정반, 테스트바/GAON-CI-105-04 |
|
| 게이지 블록 부속품 |
10505 |
평면도 |
(0 ~ 100) mm |
0.06 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 비교기,표면온도계, 비접촉 좌표 측정기,정밀 정반, 테스트바/GAON-CI-105-04 |
|
| 게이지 블록 부속품 |
10505 |
편심거리 |
(0 ~ 2) mm |
2.1 μm |
게이지 블록, 게이지 블록 비교기,표면온도계, 비접촉 좌표 측정기,정밀 정반, 테스트바/GAON-CI-105-04 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
- |
(0 ~ 500) mm |
sqrt((0.56 μm)²+ (2.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준자, 직각자/GAON-CI-105-05 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
직각도 |
(0 ~ 500) mm |
3.1 μm |
표준자, 직각자/GAON-CI-105-05 |
|
| 측정현미경, 측정투영기 |
10511 |
각도 |
(10 ~ 90)˚ |
3.6˝ |
표준자, 직각자/GAON-CI-105-05 |
|
| 측미 현미경 |
10512 |
- |
(0 ~ 1) mm |
1.5 μm |
표준자/GAON-CI-105-06 |
|
| 측미 현미경 |
10512 |
- |
(1 ~ 15) mm |
14 μm |
표준자/GAON-CI-105-06 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
가로(X)축 배율교정 |
(0 ~ 101) μm |
0.9 μm |
표면 거칠기 표준 시편,게이지 블록 단차시편/GAON-CI-105-07 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
높이(Z)축 배율교정 |
(0 ~ 10) μm |
0.08 μm |
표면 거칠기 표준 시편,게이지 블록 단차시편/GAON-CI-105-07 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Ra |
(0 ~ 3.13) μm |
0.028 μm |
표면 거칠기 표준 시편,게이지 블록 단차시편/GAON-CI-105-07 |
|
| 촉침식 표면 거칠기 측정기 |
10517 |
Rz |
(0 ~ 9.9) μm |
0.09 μm |
표면 거칠기 표준 시편,게이지 블록 단차시편/GAON-CI-105-07 |
|
| 표면 거칠기 표준 및 비교시편 |
10519 |
표면 거칠기 표준시편(Ra) |
(0 ~ 3.5) μm |
0.034 μm |
표면 거칠기 표준 시편,촉침식 표면 거칠기 측정기/GAON-CI-105-08 |
|
| 표면 거칠기 표준 및 비교시편 |
10519 |
표면 거칠기 표준시편(Rz) |
(0 ~ 11.8) μm |
0.12 μm |
표면 거칠기 표준 시편,촉침식 표면 거칠기 측정기/GAON-CI-105-08 |
|
| 표면 거칠기 표준 및 비교시편 |
10519 |
표면 거칠기 비교시편 |
(0 ~ 1 000) μm |
0.37 μm |
표면 거칠기 표준 시편,촉침식 표면 거칠기 측정기/GAON-CI-105-08 |
|
| 나사 플러그 게이지 |
10525 |
바깥지름 |
(0.5 ~ 100) mm |
sqrt((0.24 μm)²+ (4.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 비접촉 좌표 측정기,외측 마이크로미터,형상 측정기,나사측정용 와이어 게이지/GAON-CI-105-09 |
|
| 나사 플러그 게이지 |
10525 |
피치 |
(0.25 ~ 5.5) mm |
1.3 μm |
표준 측장기, 비접촉 좌표 측정기,외측 마이크로미터,형상 측정기,나사측정용 와이어 게이지/GAON-CI-105-09 |
|
| 나사 플러그 게이지 |
10525 |
산의 반각 |
(1 ~ 45)˚ |
0.2′ |
표준 측장기, 비접촉 좌표 측정기,외측 마이크로미터,형상 측정기,나사측정용 와이어 게이지/GAON-CI-105-09 |
|
| 나사 플러그 게이지 |
10525 |
유효지름 |
(0.8 ~ 100) mm |
1.5 μm |
표준 측장기, 비접촉 좌표 측정기,외측 마이크로미터,형상 측정기,나사측정용 와이어 게이지/GAON-CI-105-13 |
|
| 나사 링 게이지 |
10527 |
안지름 |
(4 ~ 100) mm |
sqrt((2.1 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
표준 측장기, 프로브 볼,형상 측정기, 삼점 마이크로미터/ GAON-CI-105-10 |
|
| 나사 링 게이지 |
10527 |
피치 |
(0.5 ~ 6.5) mm |
0.5 μm |
표준 측장기, 프로브 볼,형상 측정기, 삼점 마이크로미터/ GAON-CI-105-10 |
|
| 나사 링 게이지 |
10527 |
유효지름 |
(4.5 ~ 100) mm |
2.4 μm |
표준 측장기, 프로브 볼,형상 측정기, 삼점 마이크로미터/ GAON-CI-105-10 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
밑면 평면도 |
(10 ~ 200) mm |
0.5 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
브이면의 평면도 |
(10 ~ 200) mm |
0.5 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
밑면과 브이면 위의 원통과의 평행도 |
(10 ~ 200) mm |
2.6 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
브이 홈의 밑면에 대한 기울기 |
(10 ~ 200) mm |
0.4 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
옆면과 브이면 위의 원통과의 평행도 |
(10 ~ 200) mm |
2.6 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 브이 블록 및 박스 블록 |
10529 |
브이면 높이의 상호차 |
(10 ~ 200) mm |
2.6 μm |
높이 측정기, 높이 게이지,정밀 정반, 전기 마이크로미터,테스트 바/ GAON-CI-105-11 |
|
| 위치게이지 |
10530 |
길이 |
(0 ~ 500) mm |
sqrt((0.92 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-105-12 |
|
| 위치게이지 |
10530 |
직경 |
(0 ~ 100) mm |
1.4 μm |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-105-12 |
|
| 위치게이지 |
10530 |
각도 |
(0 ~ 360)˚ |
0.19′ |
접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-105-12 |
|
| ▶ 기타 길이 관련량 |
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
내/외측 캘리퍼 |
(0 ~ 200) mm |
sqrt((1.6 μm)²+ (4.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지/캘리퍼 검사기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-01 |
|
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
내/외측 캘리퍼 |
(200 ~ 600) mm |
sqrt((8.2 μm)²+ (3.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지/캘리퍼 검사기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-01 |
|
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
내/외측 캘리퍼 |
(600 ~ 3 000) mm |
sqrt((15 μm)²+ (4.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지/캘리퍼 검사기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-01 |
|
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
캘리퍼 게이지 |
(0 ~ 50) mm |
sqrt((0.14 μm)²+ (3.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지/캘리퍼 검사기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-01 |
|
| 내/외측/기어 이두께 캘리퍼, 캘리퍼 게이지 |
10601 |
캘리퍼 게이지 |
(50 ~ 300) mm |
sqrt((7.6 μm)²+ (1.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
스텝 게이지/캘리퍼 검사기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-01 |
|
| 실린더/보어 게이지 |
10603 |
실린더 게이지 |
(0 ~ 700) mm |
0.6 μm |
다이얼/실린더 게이지 시험기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-02 |
|
| 실린더/보어 게이지 |
10603 |
보어 게이지 |
(0.1 ~ 100) mm |
0.7 μm |
다이얼/실린더 게이지 시험기,게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-02 |
|
| 깊이 게이지, 마이크로미터; 다이얼형 포함 |
10604 |
- |
(0 ~ 300) mm |
sqrt((1.0 μm)²+ (1.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 정밀 정반/GAON-CI-106-03 |
|
| 깊이 게이지, 마이크로미터; 다이얼형 포함 |
10604 |
- |
(300 ~ 1 000) mm |
sqrt((8.6 μm)²+ (3.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 정밀 정반/GAON-CI-106-03 |
|
| 다이얼/디지털 게이지 |
10605 |
- |
(0 ~ 100) mm |
sqrt((0.94 μm)²+ (2.4 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
다이얼/실린더 게이지 시험기,게이지 블록 /GAON-CI-106-04 |
|
| 지침 측미기, 테스트 인디케이터 |
10609 |
- |
±5 mm |
0.6 μm |
다이얼/실린더 게이지 시험기/GAON-CI-106-05 |
|
| 마이크로미터 헤드 |
10610 |
- |
(0 ~ 100) mm |
sqrt((0.66 μm)²+ (1.8 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 전기 마이크로미터/GAON-CI-106-06 |
|
| 3점 마이크로미터 |
10611 |
- |
(2 ~ 100) mm |
sqrt((2.4 μm)²+ (2.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
원통형 링 게이지/GAON-CI-106-07 |
|
| 3점 마이크로미터 |
10611 |
- |
(100 ~ 300) mm |
sqrt((3.2 μm)²+ (3.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
원통형 링 게이지/GAON-CI-106-07 |
|
| 내측 마이크로미터 |
10612 |
- |
(5 ~ 3 000) mm |
sqrt((1.7 μm)²+ (4.2 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 게이지 블록 악세서리/GAON-CI-106-08 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(0 ~ 25) mm |
sqrt((0.12 μm)²+ (2.0 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지/GAON-CI-106-09 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(25 ~ 100) mm |
sqrt((0.76 μm)²+ (2.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지/GAON-CI-106-09 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(100 ~ 1 000) mm |
sqrt((1.3 μm)²+ (3.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지/GAON-CI-106-09 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
외측 마이크로미터 |
(1 000 ~ 3 000) mm |
sqrt((1.4 μm)²+ (4.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지/GAON-CI-106-09 |
|
| 외측 마이크로미터 |
10613 |
V-앤빌 마이크로미터 |
(2.5 ~ 85) mm |
sqrt((1.1 μm)²+ (2.6 × 10⁻⁶ ×l₀)²) |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지/GAON-CI-106-09 |
|
| 표준 체 |
10617 |
선 지름 |
(0 ~ 10) mm |
1.4 μm |
비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-10 |
|
| 표준 체 |
10617 |
체 눈 크기 |
(0 ~ 100) mm |
2.3 μm |
비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-10 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
높이 및 깊이 |
(0 ~ 20) mm |
0.4 mm |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
목의 두께 |
(0 ~ 20) mm |
0.4 mm |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
눈금자 |
(0 ~ 50) mm |
0.3 mm |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
각도 |
(0 ~ 50)˚ |
0.6˚ |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
테이퍼형 틈새 게이지 |
(0.5 ~ 10) mm |
0.2 mm |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| 용접 게이지 |
10620 |
C형 면취 게이지 |
(2.5 ~ 20) mm |
0.1 mm |
게이지 블록, 원통형 핀 게이지,비접촉식 좌표 측정기/GAON-CI-106-11 |
|
| ▶ 질량 |
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(0 ~ 20) g |
90 μg |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(20 ~ 200) g |
0.24 mg |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(200 ~ 1 000) g |
0.97 mg |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(1 ~ 10) kg |
9.7 mg |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(10 ~ 30) kg |
20 mg |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(30 ~ 50) kg |
0.84 g |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(50 ~ 100) kg |
1.7 g |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 전기식 지시 저울 |
20109 |
- |
(100 ~ 200) kg |
3.1 g |
분동/ GAON-CI-201-01 |
|
| 판수동/플랫트 폼 저울 |
20112 |
- |
(10 ~ 50) kg |
18 g |
분동/ GAON-CI-201-02 |
|
| 판수동/플랫트 폼 저울 |
20112 |
- |
(50 ~ 200) kg |
91 g |
분동/ GAON-CI-201-02 |
|
| 접시 지시 저울, 스프링 지시 저울 |
20113 |
- |
(0 ~ 1) kg |
0.76 g |
분동/ GAON-CI-201-03 |
|
| 접시 지시 저울, 스프링 지시 저울 |
20113 |
- |
(1 ~ 10) kg |
8.1 g |
분동/ GAON-CI-201-03 |
|
| 접시 지시 저울, 스프링 지시 저울 |
20113 |
- |
(10 ~ 50) kg |
81 g |
분동/ GAON-CI-201-03 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
1 mg |
6.7 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
2 mg |
6.7 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
5 mg |
6.7 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
10 mg |
8.3 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
20 mg |
10 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
50 mg |
13 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
100 mg |
17 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
200 mg |
20 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
500 mg |
27 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
1 g |
33 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
2 g |
40 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
5 g |
53 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
10 g |
67 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
20 g |
83 μg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
50 g |
0.10 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
100 g |
0.17 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
200 g |
0.33 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
500 g |
0.83 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
1 kg |
1.7 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
2 kg |
3.3 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
5 kg |
8.3 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
10 kg |
17 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| 분동 및 추 |
20116 |
- |
20 kg |
34 mg |
분동,전기식 지시 저울/ GAON-CI-201-04 |
|
| ▶ 힘 |
| 푸쉬풀 게이지 |
20204 |
- |
(1 ~ 1 000) N |
1.6 × 10⁻³ |
추/ GAON-CI-202-02 |
|
| ▶ 토크 |
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(0.1 ~ 1) N·cm |
1.2 × 10⁻² |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(1 ~ 6) N·cm |
1.4 × 10⁻² |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(6 ~ 60) N·cm |
9.0 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(60 ~ 600) N·cm |
5.5 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(6 ~ 20) N·m |
5.7 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(20 ~ 50) N·m |
4.6 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(50 ~ 100) N·m |
3.0 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(100 ~ 200) N·m |
4.8 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(200 ~ 500) N·m |
6.4 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| 토크 렌치 및 토크 드라이버 |
20303 |
- |
(500 ~ 1 000) N·m |
6.8 × 10⁻³ |
토크측정기/GAON-CI-203-01 |
|
| ▶ 압력 |
| 액주형 압력계; 경사관, U자관, 단관식 등 |
20402 |
- |
(0 ~ 100) kPa |
3.7 × 10⁻² |
압력 컨트롤러/ GAON-CI-204-01 |
|
| 절대압계; 다이얼, 디지털. 기압계, 기록계 등 |
20406 |
- |
(5 ~ 200) kPa ABS |
5.0 × 10⁻⁴ |
압력 컨트롤러/ GAON-CI-204-02 |
|
| 연성 압력계 |
20408 |
- |
(-95 ~ 2 500) kPa |
1.3 × 10⁻³ |
압력 컨트롤러/ GAON-CI-204-03 |
|
| 차압계; 디지털, 다이얼 포함 |
20409 |
- |
(0 ~ 0.2) kPa |
4.0 × 10⁻³ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-04 |
|
| 차압계; 디지털, 다이얼 포함 |
20409 |
- |
(0.2 ~ 100) kPa |
8.2 × 10⁻⁴ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-04 |
|
| 차압계; 디지털, 다이얼 포함 |
20409 |
- |
(100 ~ 700) kPa |
6.0 × 10⁻³ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-04 |
|
| 게이지압용 압력계; 다이얼, 디지털, 기록계 등 |
20411 |
- |
(0 ~ 100) kPa |
1.2 × 10⁻³ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-05 |
|
| 게이지압용 압력계; 다이얼, 디지털, 기록계 등 |
20411 |
- |
(100 ~ 6 000) kPa |
1.3 × 10⁻⁴ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-05 |
|
| 게이지압용 압력계; 다이얼, 디지털, 기록계 등 |
20411 |
- |
(6 ~ 100) MPa |
1.2 × 10⁻⁴ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계/ GAON-CI-204-05 |
|
| 압력 변환기/전송기 |
20412 |
- |
(0 ~ 100) kPa |
8.2 × 10⁻³ |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계,디지털 멀티미터/ GAON-CI-204-06 |
|
| 압력 변환기/전송기 |
20412 |
- |
(100 ~ 6 000) kPa |
5.0 × 10⁻² |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계,디지털 멀티미터/ GAON-CI-204-06 |
|
| 압력 변환기/전송기 |
20412 |
- |
(6 ~ 100) MPa |
1.4 × 10⁻² |
압력 컨트롤러,공압 분동식 압력계,유압 분동식 압력계,디지털 멀티미터/ GAON-CI-204-06 |
|
| 다이얼형 진공계 |
20413 |
- |
(-95 ~ 0) kPa |
8.0 × 10⁻⁴ |
압력 컨트롤러/ GAON-CI-204-07 |
|
| ▶ 접촉식 온도 |
| 온도 발생장치; 오븐, 전기로, 액체항온조, 빙점조, 드라이블럭교정기 등 |
50101 |
오븐 |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.39 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-01 |
|
| 온도 발생장치; 오븐, 전기로, 액체항온조, 빙점조, 드라이블럭교정기 등 |
50101 |
전기로 |
(200 ~ 1 100) ℃ |
0.9 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-01 |
|
| 온도 발생장치; 오븐, 전기로, 액체항온조, 빙점조, 드라이블럭교정기 등 |
50101 |
액체항온조 |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.04 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-01 |
|
| 온도 발생장치; 오븐, 전기로, 액체항온조, 빙점조, 드라이블럭교정기 등 |
50101 |
빙점조 |
0 ℃ |
0.031 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-01 |
|
| 온도 발생장치; 오븐, 전기로, 액체항온조, 빙점조, 드라이블럭교정기 등 |
50101 |
드라이블럭교정기 |
(-40 ~ 650) ℃ |
0.07 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-01 |
|
| 온도 지시계; 지시/기록/조절계, 온도 교정기 등 |
50102 |
열전식 (센서포함) |
(-40 ~ 600) ℃ |
0.27 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대,전기식 온도교정기/GAON-CI-501-02 |
|
| 온도 지시계; 지시/기록/조절계, 온도 교정기 등 |
50102 |
열전식 (센서포함) |
(600 ~ 1 100) ℃ |
1.0 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대,전기식 온도교정기/GAON-CI-501-02 |
|
| 온도 지시계; 지시/기록/조절계, 온도 교정기 등 |
50102 |
저항식 (센서포함) |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.04 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대,전기식 온도교정기/GAON-CI-501-02 |
|
| 온도 지시계; 지시/기록/조절계, 온도 교정기 등 |
50102 |
열전식 (센서미포함) |
(-40 ~ 1 100) ℃ |
0.12 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대,전기식 온도교정기/GAON-CI-501-02 |
|
| 온도 지시계; 지시/기록/조절계, 온도 교정기 등 |
50102 |
저항식 (센서미포함) |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.04 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대,전기식 온도교정기/GAON-CI-501-02 |
|
| 유리제 온도계; 유리제온도계, 벡크만 온도계 등 |
50103 |
- |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.05 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-03 |
|
| 저항식 온도계; 백금저항온도계, 측온저항체, 써미스터 등 |
50104 |
- |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.10 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-04 |
|
| 열팽창식 온도계; 바이메탈 온도계, 기체 또는 액체 충만식 온도계 등 |
50105 |
- |
(-40 ~ 150) ℃ |
0.8 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-05 |
|
| 열팽창식 온도계; 바이메탈 온도계, 기체 또는 액체 충만식 온도계 등 |
50105 |
- |
(150 ~ 500) ℃ |
1.5 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-05 |
|
| 열전대; 귀금속, 비금속, 순금속, 특수 등 |
50106 |
- |
(-40 ~ 250) ℃ |
0.20 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-06 |
|
| 열전대; 귀금속, 비금속, 순금속, 특수 등 |
50106 |
- |
(250 ~ 1 100) ℃ |
1.1 ℃ |
표준백금저항온도계. S형 열전대/GAON-CI-501-06 |
|
| 온도 변환기 |
50107 |
- |
(-40 ~ 100) ℃ |
0.7 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-07 |
|
| 온도 변환기 |
50107 |
- |
(100 ~ 250) ℃ |
0.8 ℃ |
표준백금저항온도계/GAON-CI-501-07 |
|
| ▶ 습도 |
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.4 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(30 ~ 50) % R.H. |
1.6 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.3 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.6 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(5 ~ 20) ℃ |
0.5 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(20 ~ 40) ℃ |
0.5 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
고분자 박막 |
(40 ~ 80) ℃ |
0.7 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.6 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(30 ~ 50) % R.H. |
1.8 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.5 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.9 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(5 ~ 20) ℃ |
0.4 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(20 ~ 40) ℃ |
0.6 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 상대습도 습도계; 고분자박막, 모발 등 |
50302 |
모발 |
(40 ~ 80) ℃ |
0.6 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-01 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.4 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(30 ~ 50) % R.H. |
1.6 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.3 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.7 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(5 ~ 20) ℃ |
0.5 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(20 ~ 40) ℃ |
0.5 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 건습구 습도계; 아스만 통풍, 저항온도계식 등 |
50303 |
- |
(40 ~ 80) ℃ |
0.6 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-02 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.5 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(30 ~ 50) % R.H. |
1.8 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.4 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.7 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(5 ~ 20) ℃ |
0.8 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 온·습도 기록계 ; 자기온습도기록계 등 |
50304 |
- |
(20 ~ 50) ℃ |
0.8 ℃ |
노점습도계/GAON-CI-503-03 |
|
| 노점/상대습도 변환기 |
50305 |
- |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.5 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-04 |
|
| 노점/상대습도 변환기 |
50305 |
- |
(30 ~ 50) % R.H. |
1.7 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-04 |
|
| 노점/상대습도 변환기 |
50305 |
- |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.4 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-04 |
|
| 노점/상대습도 변환기 |
50305 |
- |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.7 % R.H. |
노점습도계/GAON-CI-503-04 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(10 ~ 30) % R.H. |
2.4 % R.H. |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(30 ~ 50) % R.H. |
2.0 % R.H. |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(50 ~ 80) % R.H. |
2.2 % R.H. |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(80 ~ 95) % R.H. |
2.7 % R.H. |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(-40 ~ 100) ℃ |
0.5 ℃ |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|
| 습도 발생장치; 이압력식/이온도식/분류식 습도발생장치, 항온항습기 등 |
50306 |
- |
(100 ~ 200) ℃ |
0.4 ℃ |
노점습도계, 온도기록계/GAON-CI-503-05 |
|