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시험은 특정한 제품,공정 또는 서비스를 대상으로 하나 또는 그 이상의 특성을 규정된 절차에 따라 측정하는 기술적인 작업, 설계, 제품, 서비스, 공정, 공장에 대한 조사 및 특정요건이나 전문적 판정, 일반요건을 근거로 한 적합성 판정을 말한다.

인정번호 (Accreditation No) KT544
기관명
(Organization Name)
(주)한국품질시험원
공인유효기간 2024-12-28 ~ 2028-12-27
주소 경기도 수원시 권선구 오목천로132번길 33
소재지 경기도 수원시 권선구 오목천로132번길 33
담당자 배우미
전화 번호 031-227-4280
팩스 번호 031-227-4291
인정범위 화학시험
규격번호
(Test method)
규격명
(Standard designation)
시험범위
(Test Range)
사업장
(Site)
▶ 비철
KS D 1678:2022 알루미늄 및 알루미늄 합금의 유도 결합 플라스마 방출 분광 분석 방법 A법 :
Cu (0.002 ~ 0.25) %,
Fe (0.002 ~ 1.0) %,
Mg, Mn, Zn, Ti, Cr,
V (0.002 ~ 0.1) %

B법 :
Cu (0.01 ~ 6.0) %,
Fe (0.02 ~ 1.5) %,
Mn (0.01 ~ 2.0) %,
Mg (0.01 ~ 12.0) %,
Zn (0.01 ~ 8.0) %,
Ni (0.01 ~ 3.0) %,
Cr, Ti (0.01 ~ 0.5) %,
Pb, Bi (0.01 ~ 1.0) %,
Zr, Sn (0.01 ~ 0.5) %,
V, B (0.01 ~ 0.25) %
소재지
▶ 수질
KS I ISO 11885:1996 수질 - 유도 결합 플라즈마 원자 발광 분광법(ICP-OES)에 의한 선택 원소 측정 방법 Al : >0.1 mg/L,
As : >0.1 mg/L,
Ba : >0.004 mg/L,
Ca : >0.1 mg/L,
Cd : >0.01 mg/L,
Cr : >0.01 mg/L,
Cu : >0.01 mg/L,
Fe : >0.02 mg/L,
K : >2 mg/L,
Mg : >0.03 mg/L,
Mn : >0.02 mg/L,
Na : >0.1 mg/L,
Pb : >0.2 mg/L,
Sb : >0.1 mg/L,
Se : >0.1 mg/L,
Si : >0.02 mg/L,
Zn : >0.01 mg/L
소재지
▶ 실내 및 기타환경
KS C IEC 62321-3-1:2014 전기전자 제품에서 특정물질의
정량 – 제3-1부:X선 형광 분석법에 의한 납,
수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의
스크리닝
Pb, Hg, Cd, Cr, Br :
Pass test
소재지
KS C IEC 62321-4:2017 전기전자 제품에서 특정물질의 정량 - 제4부:
CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는
ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자
제품에서 수은의 정량
Hg : >5 ㎎/㎏ 소재지
KS C IEC 62321-5:2014 전기전자 제품에서 특정물질의
정량 - 제5부:AAS, AFS, ICP-OES또는
ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자
부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과
금속에서 카드뮴과 납의 분석
Pb, Cd, Cr :
>2 ㎎/㎏
소재지
KS C IEC 62321-7-1:2015 전기전자 제품 내 특정 물질의 정량 — 제7-1부: 비색법에 의한 금속의 무색 및 유색의 부식방지 코팅 내 함유된 6가 크로뮴의 확인 Cr (Ⅵ) < 0.10 μg/㎠ : Negative
(0.10 ~ 0.13) μg/㎠: Inconclusive
> 0.13μg/㎠ : Positive
소재지
KS C IEC 62321:2009 전기전자제품 - 6가지규제물질 (납, 수은,
카드뮴, 6가 크로뮴, PBBs, PBDEs)의 함량측정
Pb, Cd, Cr(Ⅵ) :
>2 ㎎/㎏,

Hg : >5 ㎎/㎏
소재지
KS C IEC62321-7-2:2017 전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제7-2부: 6가 크로뮴 — 비색법에 의한 고분자 및 전자제품 내 6가 크로뮴(Cr(VI))의 결정 Cr(Ⅵ) > 8 mg/kg 소재지