한국인정기구-KOLAS

시험은 특정한 제품,공정 또는 서비스를 대상으로 하나 또는 그 이상의 특성을 규정된 절차에 따라 측정하는 기술적인 작업, 설계, 제품, 서비스, 공정, 공장에 대한 조사 및 특정요건이나 전문적 판정, 일반요건을 근거로 한 적합성 판정을 말한다.

인정번호 (Accreditation No)

KT128

기관명
(Organization Name)

한국세라믹기술원

공인유효기간	2023-03-22 ~ 2027-03-21
주소	경상남도 진주시 소호로 101
소재지	경상남도 진주시 소호로 101
소재지-1	경기도 부천시 송내대로 388, 203동 504호
담당자	이명규
전화 번호	055-792-2500
팩스 번호	055-792-2505
인정범위	화학시험
인정범위	역학시험

규격번호 (Test method)	규격명 (Standard designation)	시험범위 (Test Range)	사업장 (Site)
▶ 시멘트 및 관련제품
KS F 2405:2022	콘크리트 압축 강도 시험방법	(0.1 ∼ 900.0) kN	소재지
KS L 5106:2009	공기 투과 장치에 의한 포틀랜드 시멘트의 분말도 시험방법	(1 000 ~ 15 000) ㎠/g	소재지
▶ 물리적 시험
KS L ISO 14704:2016	파인 세라믹스 – 단일체 세라믹스의 실온 꺾임 강도 시험방법	(0.000 1 ~ 44) kN	소재지
KS L 1601:2006	단일체 세라믹스의 상온 압축 강도 시험 방법	(0.01 ~ 88) kN	소재지
▶ 광산 및 요업 관련제품
KS L ISO 21079-1:2008	알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제1부：기구, 시약 및 용해	SiO₂ : (0.1 ∼ 45) % Al₂O₃ : (1 ∼ 80) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 2) % TiO₂ : (0.01 ∼ 5) % CaO : (0.01 ∼ 2) % MgO : (0.01 ∼ 2) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (5 ∼ 45) % HfO₂ : (0.01 ∼ 2) % LOI : (-1 ∼ 40) %	소재지-1
KS L ISO 21079-2:2008	알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제2부：습식 화학 분석	SiO₂ : (0.1 ∼ 45) % Al₂O₃ : (1 ∼ 80) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 2) % TiO₂ : (0.01 ∼ 5) % CaO : (0.01 ∼ 2) % MgO : (0.01 ∼ 2) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (5 ∼ 45) % HfO₂ : (0.01 ∼ 2) %	소재지-1
KS L ISO 21079-3:2008	알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제3부 : 불꽃 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법	SiO₂ : (0.1 ∼ 10) % Al₂O₃ : (1 ∼ 10) % Fe₂O₃: (0.01 ∼ 2) % TiO₂ : (0.01 ∼ 5) % CaO : (0.01 ∼ 2) % MgO : (0.01 ∼ 2) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % HfO₂ : (0.01 ∼ 2) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 1) %	소재지-1
KS L ISO 21078-1:2008	내화물 중의 산화붕소(III) 정량－제1부：세라믹스, 유리 및 유약의 산화물에서 총 산화붕소(III) 정량	B₂O₃ : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L ISO 21078-2:2006	내화물 중의 산화붕소(III) 정량－제2부：바인더 성분의 산화붕소(III)정량을 위한 산 추출법	B₂O₃ : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L ISO 21068-2:2008	탄화규소 함유 원료 및 내화물의 화학 분석－제2부：강열감량, 총 탄소, 유리 탄소, 탄화규소, 총 실리카, 유리 실리카, 총 규소 및 유리 규소의 정량	Ctotal : 0.1 % 이상 Cfree : 0.1 % 이상 SiC : 0.1 % 이상 Sitotal: 0.1 % 이상 Sifree : 0.1 % 이상 SiO₂ : 0.1 % 이상 LOI : 0.1 % 이상	소재지-1
KS L ISO 21068-3:2008	탄화규소 함유 원료 및 내화물의 화학 분석－제3부：질소, 산소, 금속 및 산화물 정량	Si₃N₄ : 0.1 % 이상 Fefree : 0.1 % 이상 Alfree : 0.1 % 이상 Mgfree : 0.1 % 이상 SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.1 % 이상 TiO₂ : 0.1 % 이상 CaO : 0.1 % 이상 MgO : 0.1 % 이상 Na₂O : 0.1 % 이상 K₂O : 0.1 % 이상 Cr₂O₃ : 0.1 % 이상 ZrO₂ : 0.1 % 이상 B₂O₃ : 0.1 % 이상	소재지-1
KS L 5120:2021	포틀랜드 시멘트의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.01 % 이상 Al₂O3 : 0.01 % 이상 Fe₂O3 : 0.01 % 이상 CaO : 0.01 % 이상 MgO : 0.01 % 이상 SO3 : 0.01 % 이상 Na₂O : 0.01 % 이상 K₂O : 0.01 % 이상 TiO₂ : 0.01 % 이상 P₂O5 : 0.01 % 이상 MnO : 0.01 % 이상 S : 0.01 % 이상 Cl : 0.001 % 이상 강열감량 : 0.01 % 이상 불용해잔분 : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L ISO 20565-1:2008	크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제1부：기구, 시약, 용해 및 질량법에 의한 산화규소 정량	SiO₂ : (0.5 ∼ 10) % Al₂O₃ : (2 ∼ 30) % Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 3) % MgO : (15 ∼ 85) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (2 ∼ 60) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 0.05) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (-0.5 ∼ 5) %	소재지-1
KS L ISO 20565-2:2008	크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제2부：습식 화학 분석	SiO₂ : (0.5 ∼ 10) % Al₂O₃ : (2 ∼ 30) % Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 3) % MgO : (15 ∼ 85) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (2 ∼ 60) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 0.05) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (-0.5 ∼ 5) %	소재지-1
KS L ISO 20565-3:2008	크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제3부：원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법	SiO₂ : (0.5 ∼ 10) % Al₂O₃ : (2 ∼ 30) % Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 3) % MgO : (15 ∼ 85) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (2 ∼ 60) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 0.05) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (-0.5 ∼ 5) %	소재지-1
KS L ISO 10058-1:2008	마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제1부 : 기구, 시약, 용해 및 무게법에 의한 산화규소 정량	SiO₂ : (0.1 ∼ 10) % Al₂O₃ : (0.05 ∼ 10) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 60) % MgO : (30 ∼ 99.9) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (0.01 ∼ 60) %	소재지-1
KS L ISO 10058-2:2008	마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제2부 : 습식 화학 분석	SiO₂ : (0.1 ∼ 10) % Al₂O₃ : (0.05 ∼ 10) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 60) % MgO : (30 ∼ 99.9) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (0.01 ∼ 60) %	소재지-1
KS L ISO 10058-3:2008	마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제3부：불꽃 원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법	SiO₂ : (0.1 ∼ 10) % Al₂O₃ : (0.05 ∼ 10) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 1) % CaO : (0.01 ∼ 10) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) % P₂O5 : (0.01 ∼ 5) % LOI : (0.01 ∼ 60) %	소재지-1
KS L ISO 21587-1:2007	알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－ 제1부：기구, 시약, 용해 및 중량법에 의한 산화규소 정량	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.1 % 이상 TiO₂ : 0.1 % 이상 MnO : 0.1 % 이상 CaO : 0.1 % 이상 MgO : 0.1 % 이상 Na₂O : 0.1 % 이상 K₂O : 0.1 % 이상 Cr₂O₃ : 0.1 % 이상 ZrO₂ : 0.1 % 이상 P₂O5 : 0.1 % 이상	소재지-1
KS L ISO 21587-2:2007	알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－제2부：습식 화학 분석	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.1 % 이상 TiO₂ : 0.1 % 이상 MnO : 0.1 % 이상 CaO : 0.1 % 이상 MgO : 0.1 % 이상 Na₂O : 0.1 % 이상 K₂O : 0.1 % 이상 Cr₂O₃ : 0.1 % 이상 ZrO₂ : 0.1 % 이상 P₂O5 : 0.1 % 이상	소재지-1
KS L ISO 21587-3:2007	알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－제3부：유도결합 플라스마 원자 방출 분광법 및 원자 흡수 분광법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.1 % 이상 TiO₂ : 0.1 % 이상 MnO : 0.1 % 이상 CaO : 0.1 % 이상 MgO : 0.1 % 이상 Na₂O : 0.1 % 이상 K₂O : 0.1 % 이상 Cr₂O₃ : 0.1 % 이상 ZrO₂ : 0.1 % 이상 P₂O5 : 0.1 % 이상	소재지-1
ASTM C1301-22	Standard Test Method for Major and Trace Elements in Limestone and Lime by Inductively Coupled Plasma– Atomic Emission Spectroscopy (ICP) and Atomic Absorption (AA)	CaO : (30 ∼ 60) % MgO : (0.01 ∼ 10) % SiO₂ : (0.01 ∼ 10) % Al₂O₃ : (0.01 ∼ 10) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) % MnO : (0.01 ∼ 10) % Na₂O : (0.01 ∼ 10) % K₂O : (0.01 ∼ 10) % P₂O5 : (0.01 ∼ 10) %	소재지-1
KS L 5211:2019	플라이 애시 시멘트 - 7.6 산화마그네슘, 삼산화황, 강열감량	MgO : 0.01 % 이상 SO₃ : 0.01 % 이상 강열감량 : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L ISO 26845:2008	내화물의 화학 분석－습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법을 위한 일반 요구 사항 - 9. 강열 감량 정량(질량법)	강열감량 : 0.01 % 이상	소재지-1
식품의약품안전처 고시 제2026-24호(2026.3.27.)	식품용 기구 및 용기·포장 공전 - VI.2.2-1 납 시험법 나. 용출시험, 3) 유리제, 도자기제, 법랑 및 옹기류 - VI.2.2-2 카드뮴 시험법 나. 용출시험 , 2) 유리제, 도자기제, 법랑 및 옹기류 - VI.2.2-9 비소 시험법, 라. 유도결합플라즈마발광강도측정법 - VI.2.2-10 안티몬 시험법 나. 용출시험, 2) 법랑	Pb : 0.1 mg/L 이상 Cd : 0.01 mg/L 이상 As : 0.01 mg/L 이상 Sb : 0.01 mg/L 이상	소재지-1
KS L 4007:2016	점토의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.01 % 이상 TiO₂ : 0.01 % 이상 CaO : 0.01 % 이상 MgO : 0.01 % 이상 Na₂O : 0.01 % 이상 K₂O : 0.01 % 이상 강열감량 : 0.1 % 이상	소재지-1
KS L 3316:2014	내화물 제품의 형광 X-선 분석 방법	점토질 SiO₂ : (40 ∼ 90) % Al₂O₃ : (10 ∼ 45) % Fe₂O₃ : (0.3 ∼ 4) % TiO₂ : (0.3 ∼ 3) % MnO : (0.01 ∼ 0.2) % CaO : (0.01 ∼ 1) % MgO : (0.01 ∼ 1) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 3) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 1) % ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) % P₂O5 : (0.01 ∼ 1) % 규석질 SiO₂ : (85 ∼ 98) % Al₂O₃ : (0.1 ∼ 10) % Fe₂O₃ : (0.02 ∼ 4) % TiO₂ : (0.01 ∼ 0.2) % MnO : (0.01 ∼ 0.2) % CaO : (0.01 ∼ 4) % MgO : (0.01 ∼ 0.2) % Na₂O : (0.01 ∼ 0.5) % K₂O : (0.01 ∼ 0.5) % 고알루미나질 SiO₂ : (0.1 ∼ 45) % Al₂O₃ : (40 ∼ 95) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 4) % TiO₂ : (0.01 ∼ 5) % MnO : (0.01 ∼ 0.2) % CaO : (0.01 ∼ 1) % MgO : (0.01 ∼ 1) % Na₂O : (0.01 ∼ 1) % K₂O : (0.01 ∼ 3) % 마그네시아질 SiO₂ : (0.1 ∼ 8) % Al₂O₃ : (0.05 ∼ 8) % Fe₂O₃ : (0.05 ∼ 5) % CaO : (0.01 ∼ 5) % MgO : (80 ∼9 9) % 크로뮴-마그네시아질 SiO₂ : (1 ∼ 10) % Al₂O₃ : (2 ∼ 30) % Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) % TiO₂ : (0.01 ∼ 1) % MnO : (0.01 ∼ 0.2) % CaO : (0.05 ∼ 5) % MgO : (15 ∼ 85) % Cr₂O₃ : (2 ∼ 50) % 지르콘-지르코니아질 SiO₂ : (0.01 ∼ 45) % Al₂O₃ : (0.01 ∼ 7) % Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % TiO₂ : (0.01 ∼ 2) % CaO : (0.01 ∼ 6) % MgO : (0.01 ∼ 5) % Na₂O : (0.01 ∼ 2) % K₂O : (0.01 ∼ 2) % Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) % ZrO₂ : (45 ∼ 96) % P2O5 : (0.01 ∼ 2) % HfO₂ : (0.05 ∼ 2) % 알루미나-지르코니아-실리카질 SiO₂ : (0.01 ∼ 45) % Al2O₃ : (10 ∼ 80) % Fe2O₃ : (0.01 ∼ 2) % TiO₂ : (0.01 ∼ 5) % CaO : (0.01 ∼ 2) % MgO : (0.01 ∼ 2) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % ZrO₂ : (5 ∼ 50) % HfO₂ : (0.05 ∼ 2) % 알루미나-마그네시아질 SiO₂ : (0.1 ∼ 5) % Al₂O₃ : (10 ∼ 95) % Fe₂O₃ : (0.3 ∼ 5) % TiO₂ : (0.01 ∼ 3) % CaO : (0.01 ∼ 5) % MgO : (3 ∼ 80) % Na₂O : (0.01 ∼ 3) % K₂O : (0.01 ∼ 1) % P₂O5 : (0.01 ∼ 1) %	소재지-1
KS L 2512:2009	붕규산 유리의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.01 % 이상 Fe₂O₃ : 0.001 % 이상 TiO₂ : 0.001 % 이상 ZrO₂ : 0.001 % 이상 Na₂O : 0.01 % 이상 K₂O : 0.001 % 이상 B₂O₃ : 0.1 % 이상 Cl : 0.001 % 이상 As₂O₃ : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L 2404:2005	크리스탈 유리의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 PbO : 0.01 % 이상 Al₂O₃ : 0.01 % 이상 CaO : 0.01 % 이상 MgO : 0.01 % 이상 K₂O : 0.01 % 이상 Fe₂O₃ : 0.01 % 이상 As₂O₃ : 0.01 % 이상 TiO₂ : 0.01 % 이상 B₂O₃ : 0.01 % 이상 강열감량 : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L 2308:2026	소다석회 유리의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.01 % 이상 Fe₂O₃ : 0.001 % 이상 TiO₂ : 0.001 % 이상 CaO : 0.01 % 이상 MgO : 0.01 % 이상 Na₂O : 0.01 % 이상 K₂O : 0.01 % 이상 SO₃ : 0.01 % 이상 As₂O₃ : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L 2101:2009	규사 및 규석의 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.01 % 이상 Fe₂O₃ : 0.001 % 이상 TiO₂ : 0.01 % 이상 CaO : 0.01 % 이상 MgO : 0.01 % 이상 Na₂O : 0.01 % 이상 K₂O : 0.01 % 이상 ZrO₂ : 0.01 % 이상 강열감량 : 0.01 % 이상	소재지-1
KS L 1204:2014	도자기 표면으로부터 용출되는 납, 카드뮴 및 비소량의 측정방법	Pb : 0.1 mg/L 이상 Cd : 0.01 mg/L 이상 As : 0.01 mg/L 이상	소재지-1
KS E 3075:2022	석회석과 백운석의 형광 X선 분석 방법	SiO₂ : (0.10 ∼ 15.0) % Al2O₃ : (0.05 ∼ 5.00) % CaO : (29.0 ∼ 55.8) % MgO : (0.10 ∼ 22.0) % Fe₂O₃ : (0.05 ∼ 2.00) %	소재지-1
KS E 3071:2018	석회석 화학 분석 방법	SiO₂ : 0.1 % 이상 Al₂O₃ : 0.1 % 이상 Fe₂O₃ : 0.1 % 이상 CaO : 0.1 % 이상 MgO : 0.1 % 이상 P₂O5 : 0.001 % 이상 전황(Total S) : 0.1 % 이상 강열감량 : 0.1 % 이상	소재지-1
▶ 실내 및 기타환경
KS C IEC 62321-5 Ed. 1.0:2014	전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 - 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석	(ICP-OES) Pb : 〉10 mg/kg Cd : 〉10 mg/kg	소재지-1
KS C IEC 62321-4:2017	전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 - 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량	(ICP-OES) Hg : 〉10 mg/kg	소재지-1
KS C IEC 62321-7-2:2017	전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제7-2부: 6가 크로뮴 — 비색법에 의한 고분자 및 전자제품 내 6가 크로뮴(Cr(VI))의 결정	Cr6+ : 〉10 mg/kg	소재지-1

규격번호
(Test method)

규격명
(Standard designation)

시험범위
(Test Range)

사업장
(Site)

▶ 시멘트 및 관련제품

KS F 2405:2022

콘크리트 압축 강도 시험방법

(0.1 ∼ 900.0) kN

소재지

KS L 5106:2009

공기 투과 장치에 의한 포틀랜드 시멘트의 분말도 시험방법

(1 000 ~ 15 000) ㎠/g

소재지

▶ 물리적 시험

KS L ISO 14704:2016

파인 세라믹스 – 단일체 세라믹스의 실온 꺾임 강도 시험방법

(0.000 1 ~ 44) kN

소재지

KS L 1601:2006

단일체 세라믹스의 상온 압축 강도 시험 방법

(0.01 ~ 88) kN

소재지

▶ 광산 및 요업 관련제품

KS L ISO 21079-1:2008

알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제1부：기구, 시약 및 용해

SiO₂ : (0.1 ∼ 45) %
Al₂O₃ : (1 ∼ 80) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 2) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 5) %
CaO : (0.01 ∼ 2) %
MgO : (0.01 ∼ 2) %
Na₂O : (0.01 ∼ 3) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
ZrO₂ : (5 ∼ 45) %
HfO₂ : (0.01 ∼ 2) %
LOI : (-1 ∼ 40) %

소재지-1

KS L ISO 21079-2:2008

알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제2부：습식 화학 분석

소재지-1

KS L ISO 21079-3:2008

알루미나, 지르코니아 및 실리카를 함유한 내화물 화학 분석－지르코니아 5 %∼45 %를 함유한 내화물－제3부 : 불꽃 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법

SiO₂ : (0.1 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (1 ∼ 10) %
Fe₂O₃: (0.01 ∼ 2) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 5) %
CaO : (0.01 ∼ 2) %
MgO : (0.01 ∼ 2) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
HfO₂ : (0.01 ∼ 2) %
Na₂O : (0.01 ∼ 3) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %

소재지-1

KS L ISO 21078-1:2008

내화물 중의 산화붕소(III) 정량－제1부：세라믹스, 유리 및 유약의 산화물에서 총 산화붕소(III) 정량

B₂O₃ : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L ISO 21078-2:2006

내화물 중의 산화붕소(III) 정량－제2부：바인더 성분의 산화붕소(III)정량을 위한 산 추출법

B₂O₃ : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L ISO 21068-2:2008

탄화규소 함유 원료 및 내화물의 화학 분석－제2부：강열감량, 총 탄소, 유리 탄소, 탄화규소, 총 실리카, 유리 실리카, 총 규소 및 유리 규소의 정량

Ctotal : 0.1 % 이상
Cfree : 0.1 % 이상
SiC : 0.1 % 이상
Sitotal: 0.1 % 이상
Sifree : 0.1 % 이상
SiO₂ : 0.1 % 이상
LOI : 0.1 % 이상

소재지-1

KS L ISO 21068-3:2008

탄화규소 함유 원료 및 내화물의 화학 분석－제3부：질소, 산소, 금속 및 산화물 정량

Si₃N₄ : 0.1 % 이상
Fefree : 0.1 % 이상
Alfree : 0.1 % 이상
Mgfree : 0.1 % 이상
SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.1 % 이상
Fe₂O₃ : 0.1 % 이상
TiO₂ : 0.1 % 이상
CaO : 0.1 % 이상
MgO : 0.1 % 이상
Na₂O : 0.1 % 이상
K₂O : 0.1 % 이상
Cr₂O₃ : 0.1 % 이상
ZrO₂ : 0.1 % 이상
B₂O₃ : 0.1 % 이상

소재지-1

KS L 5120:2021

포틀랜드 시멘트의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.01 % 이상
Al₂O3 : 0.01 % 이상
Fe₂O3 : 0.01 % 이상
CaO : 0.01 % 이상
MgO : 0.01 % 이상
SO3 : 0.01 % 이상
Na₂O : 0.01 % 이상
K₂O : 0.01 % 이상
TiO₂ : 0.01 % 이상
P₂O5 : 0.01 % 이상
MnO : 0.01 % 이상
S : 0.01 % 이상
Cl : 0.001 % 이상
강열감량 : 0.01 % 이상
불용해잔분 : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L ISO 20565-1:2008

크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제1부：기구, 시약, 용해 및 질량법에 의한 산화규소 정량

SiO₂ : (0.5 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (2 ∼ 30) %
Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 1) %
MnO : (0.01 ∼ 1) %
CaO : (0.01 ∼ 3) %
MgO : (15 ∼ 85) %
Na₂O : (0.01 ∼ 1) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %
Cr₂O₃ : (2 ∼ 60) %
ZrO₂ : (0.01 ∼ 0.05) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 5) %
LOI : (-0.5 ∼ 5) %

소재지-1

KS L ISO 20565-2:2008

크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제2부：습식 화학 분석

소재지-1

KS L ISO 20565-3:2008

크로뮴계 내화물 및 원료의 화학 분석－제3부：원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법

소재지-1

KS L ISO 10058-1:2008

마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제1부 : 기구, 시약, 용해 및 무게법에 의한 산화규소 정량

SiO₂ : (0.1 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (0.05 ∼ 10) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 1) %
MnO : (0.01 ∼ 1) %
CaO : (0.01 ∼ 60) %
MgO : (30 ∼ 99.9) %
Na₂O : (0.01 ∼ 1) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 5) %
LOI : (0.01 ∼ 60) %

소재지-1

KS L ISO 10058-2:2008

마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제2부 : 습식 화학 분석

소재지-1

KS L ISO 10058-3:2008

마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석-제3부：불꽃 원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법

SiO₂ : (0.1 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (0.05 ∼ 10) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 1) %
MnO : (0.01 ∼ 1) %
CaO : (0.01 ∼ 10) %
Na₂O : (0.01 ∼ 1) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 5) %
LOI : (0.01 ∼ 60) %

소재지-1

KS L ISO 21587-1:2007

알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－ 제1부：기구, 시약, 용해 및 중량법에 의한 산화규소 정량

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.1 % 이상
Fe₂O₃ : 0.1 % 이상
TiO₂ : 0.1 % 이상
MnO : 0.1 % 이상
CaO : 0.1 % 이상
MgO : 0.1 % 이상
Na₂O : 0.1 % 이상
K₂O : 0.1 % 이상
Cr₂O₃ : 0.1 % 이상
ZrO₂ : 0.1 % 이상
P₂O5 : 0.1 % 이상

소재지-1

KS L ISO 21587-2:2007

알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－제2부：습식 화학 분석

소재지-1

KS L ISO 21587-3:2007

알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석－제3부：유도결합 플라스마 원자 방출 분광법 및 원자 흡수 분광법

소재지-1

ASTM C1301-22

Standard Test Method for Major and Trace Elements in Limestone and Lime by Inductively Coupled Plasma– Atomic Emission Spectroscopy (ICP) and Atomic Absorption (AA)

CaO : (30 ∼ 60) %
MgO : (0.01 ∼ 10) %
SiO₂ : (0.01 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (0.01 ∼ 10) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 10) %
MnO : (0.01 ∼ 10) %
Na₂O : (0.01 ∼ 10) %
K₂O : (0.01 ∼ 10) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 10) %

소재지-1

KS L 5211:2019

플라이 애시 시멘트 - 7.6 산화마그네슘, 삼산화황, 강열감량

MgO : 0.01 % 이상
SO₃ : 0.01 % 이상
강열감량 : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L ISO 26845:2008

내화물의 화학 분석－습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법 및 유도결합 플라스마 방출 분광법을 위한 일반 요구 사항 - 9. 강열 감량 정량(질량법)

강열감량 : 0.01 % 이상

소재지-1

식품의약품안전처 고시 제2026-24호(2026.3.27.)

식품용 기구 및 용기·포장 공전
- VI.2.2-1 납 시험법 나. 용출시험, 3) 유리제, 도자기제, 법랑 및 옹기류
- VI.2.2-2 카드뮴 시험법 나. 용출시험 , 2) 유리제, 도자기제, 법랑 및 옹기류
- VI.2.2-9 비소 시험법, 라. 유도결합플라즈마발광강도측정법
- VI.2.2-10 안티몬 시험법 나. 용출시험, 2) 법랑

Pb : 0.1 mg/L 이상
Cd : 0.01 mg/L 이상
As : 0.01 mg/L 이상
Sb : 0.01 mg/L 이상

소재지-1

KS L 4007:2016

점토의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.1 % 이상
Fe₂O₃ : 0.01 % 이상
TiO₂ : 0.01 % 이상
CaO : 0.01 % 이상
MgO : 0.01 % 이상
Na₂O : 0.01 % 이상
K₂O : 0.01 % 이상
강열감량 : 0.1 % 이상

소재지-1

KS L 3316:2014

내화물 제품의 형광 X-선 분석 방법

점토질
SiO₂ : (40 ∼ 90) %
Al₂O₃ : (10 ∼ 45) %
Fe₂O₃ : (0.3 ∼ 4) %
TiO₂ : (0.3 ∼ 3) %
MnO : (0.01 ∼ 0.2) %
CaO : (0.01 ∼ 1) %
MgO : (0.01 ∼ 1) %
Na₂O : (0.01 ∼ 3) %
K₂O : (0.01 ∼ 3) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 1) %
ZrO₂ : (0.01 ∼ 1) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 1) %

규석질
SiO₂ : (85 ∼ 98) %
Al₂O₃ : (0.1 ∼ 10) %
Fe₂O₃ : (0.02 ∼ 4) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 0.2) %
MnO : (0.01 ∼ 0.2) %
CaO : (0.01 ∼ 4) %
MgO : (0.01 ∼ 0.2) %
Na₂O : (0.01 ∼ 0.5) %
K₂O : (0.01 ∼ 0.5) %

고알루미나질
SiO₂ : (0.1 ∼ 45) %
Al₂O₃ : (40 ∼ 95) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 4) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 5) %
MnO : (0.01 ∼ 0.2) %
CaO : (0.01 ∼ 1) %
MgO : (0.01 ∼ 1) %
Na₂O : (0.01 ∼ 1) %
K₂O : (0.01 ∼ 3) %

마그네시아질
SiO₂ : (0.1 ∼ 8) %
Al₂O₃ : (0.05 ∼ 8) %
Fe₂O₃ : (0.05 ∼ 5) %
CaO : (0.01 ∼ 5) %
MgO : (80 ∼9 9) %

크로뮴-마그네시아질
SiO₂ : (1 ∼ 10) %
Al₂O₃ : (2 ∼ 30) %
Fe₂O₃ : (0.5 ∼ 25) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 1) %
MnO : (0.01 ∼ 0.2) %
CaO : (0.05 ∼ 5) %
MgO : (15 ∼ 85) %
Cr₂O₃ : (2 ∼ 50) %

지르콘-지르코니아질
SiO₂ : (0.01 ∼ 45) %
Al₂O₃ : (0.01 ∼ 7) %
Fe₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 2) %
CaO : (0.01 ∼ 6) %
MgO : (0.01 ∼ 5) %
Na₂O : (0.01 ∼ 2) %
K₂O : (0.01 ∼ 2) %
Cr₂O₃ : (0.01 ∼ 3) %
ZrO₂ : (45 ∼ 96) %
P2O5 : (0.01 ∼ 2) %
HfO₂ : (0.05 ∼ 2) %

알루미나-지르코니아-실리카질
SiO₂ : (0.01 ∼ 45) %
Al2O₃ : (10 ∼ 80) %
Fe2O₃ : (0.01 ∼ 2) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 5) %
CaO : (0.01 ∼ 2) %
MgO : (0.01 ∼ 2) %
Na₂O : (0.01 ∼ 3) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %
ZrO₂ : (5 ∼ 50) %
HfO₂ : (0.05 ∼ 2) %

알루미나-마그네시아질
SiO₂ : (0.1 ∼ 5) %
Al₂O₃ : (10 ∼ 95) %
Fe₂O₃ : (0.3 ∼ 5) %
TiO₂ : (0.01 ∼ 3) %
CaO : (0.01 ∼ 5) %
MgO : (3 ∼ 80) %
Na₂O : (0.01 ∼ 3) %
K₂O : (0.01 ∼ 1) %
P₂O5 : (0.01 ∼ 1) %

소재지-1

KS L 2512:2009

붕규산 유리의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.01 % 이상
Fe₂O₃ : 0.001 % 이상
TiO₂ : 0.001 % 이상
ZrO₂ : 0.001 % 이상
Na₂O : 0.01 % 이상
K₂O : 0.001 % 이상
B₂O₃ : 0.1 % 이상
Cl : 0.001 % 이상
As₂O₃ : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L 2404:2005

크리스탈 유리의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
PbO : 0.01 % 이상
Al₂O₃ : 0.01 % 이상
CaO : 0.01 % 이상
MgO : 0.01 % 이상
K₂O : 0.01 % 이상
Fe₂O₃ : 0.01 % 이상
As₂O₃ : 0.01 % 이상
TiO₂ : 0.01 % 이상
B₂O₃ : 0.01 % 이상
강열감량 : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L 2308:2026

소다석회 유리의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.01 % 이상
Fe₂O₃ : 0.001 % 이상
TiO₂ : 0.001 % 이상
CaO : 0.01 % 이상
MgO : 0.01 % 이상
Na₂O : 0.01 % 이상
K₂O : 0.01 % 이상
SO₃ : 0.01 % 이상
As₂O₃ : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L 2101:2009

규사 및 규석의 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.01 % 이상
Fe₂O₃ : 0.001 % 이상
TiO₂ : 0.01 % 이상
CaO : 0.01 % 이상
MgO : 0.01 % 이상
Na₂O : 0.01 % 이상
K₂O : 0.01 % 이상
ZrO₂ : 0.01 % 이상
강열감량 : 0.01 % 이상

소재지-1

KS L 1204:2014

도자기 표면으로부터 용출되는 납, 카드뮴 및 비소량의 측정방법

Pb : 0.1 mg/L 이상
Cd : 0.01 mg/L 이상
As : 0.01 mg/L 이상

소재지-1

KS E 3075:2022

석회석과 백운석의 형광 X선 분석 방법

SiO₂ : (0.10 ∼ 15.0) %
Al2O₃ : (0.05 ∼ 5.00) %
CaO : (29.0 ∼ 55.8) %
MgO : (0.10 ∼ 22.0) %
Fe₂O₃ : (0.05 ∼ 2.00) %

소재지-1

KS E 3071:2018

석회석 화학 분석 방법

SiO₂ : 0.1 % 이상
Al₂O₃ : 0.1 % 이상
Fe₂O₃ : 0.1 % 이상
CaO : 0.1 % 이상
MgO : 0.1 % 이상
P₂O5 : 0.001 % 이상
전황(Total S) : 0.1 % 이상
강열감량 : 0.1 % 이상

소재지-1

▶ 실내 및 기타환경

KS C IEC 62321-5 Ed. 1.0:2014

전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 - 제5부: AAS, AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머와 전기전자 부품에서 카드뮴과 납 및 크로뮴의 분석과 금속에서 카드뮴과 납의 분석

(ICP-OES)
Pb : 〉10 mg/kg
Cd : 〉10 mg/kg

소재지-1

KS C IEC 62321-4:2017

전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 - 제4부: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES 또는 ICP-MS에 의한 폴리머, 금속 및 전기전자 제품에서 수은의 정량

(ICP-OES)
Hg : 〉10 mg/kg

소재지-1

KS C IEC 62321-7-2:2017

전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제7-2부: 6가 크로뮴 — 비색법에 의한 고분자 및 전자제품 내 6가 크로뮴(Cr(VI))의 결정

Cr6+ : 〉10 mg/kg

소재지-1

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